徠卡顯微鏡背散射電子像有較強的成分襯度。但是與二次電子像類似，徠卡顯微鏡成分襯度常與形貌襯度同時存在，所以要設法加以分離.為此徠卡要充分利用上述特性.令探頭有效面積對樣品上一點所張的角定義為探測器的立體角，探頭中心線與樣品表面間夾角定義為探測器的檢出角.對于大角度傾轉的樣品，例如奧林巴斯CX31顯微鏡，用小立體角的探頭放在接近樣品表面的低檢出角處，則測得的信號很強，而且徠卡顯微鏡價格能靈敏反映樣品表面局部形貌的變化，形貌襯度強徠卡顯微鏡非線性放大(也稱灰度或廠控制)一這種處理目的是顯微鏡局部放大圖像中某電平范圍內的信號差值。如果原始襯度給出的圖像信號電平覆蓋范圍很大，而人們感興趣的只是近黑電平(即強度zui低值)或白電平(強度zui高值)區的一部分信息細節，便可用非線性放大單元來放大感興趣區的信號以顯示出其中更多細節.

　　徠卡顯微鏡為工業質量檢測和實驗室應用設計的體視顯微鏡，簡單易用，經濟實惠。制造商依賴于可靠和承受的質量管理來保證產品的合格率，而視頻質量檢查一向是質量管理的總環節；徠卡顯微鏡E系列的設計既是旨在以zui小的質量管理成本來幫助我們消除昂貴的質量缺陷和浪費的生產力。在研發領域，性能穩定、零維護費用的徠卡顯微鏡E系列更能確保率的實驗室操作，減少停機時間。當我們面對一個細節復雜、工作距離很長，需要很多工具來輔助檢查的高亮樣本時，徠卡顯微鏡將是我們大家理想的選擇。

　　徠卡顯微鏡背散射電子象也偶有可能顯示晶體襯度，如形成單晶樣品的電子通道圖樣，或多晶樣品的取向襯度像，這些對研究晶體的結晶學特性很有用處.